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X射线荧光法,镀层厚度分析仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

X射线荧光法,镀层厚度分析仪是利用X射线(X-RAY)荧光法对金属镀层厚度进行快速、测量,Thick800A镀层厚度测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款专业测试仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

X射线荧光法,镀层厚度分析仪应用领域

 

黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。

 

性能特点

 

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光,可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

 

技术指标

 

型号:Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀(U)。 

同时可以分析30种以上元素,五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 

外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 

样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm

重量:90kg

 

X射线荧光法,镀层厚度分析仪标准配置

 

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

 

厂家介绍

 

公司专业从事光谱、色谱、质谱、医疗仪器等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。产品包括:ROHS检测仪,直读光谱仪,手持式光谱仪,ROHS检测设备,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,原子荧光光谱仪,电感耦合等离子发射光谱仪,手持式光谱仪,等离子体质谱仪, 镀层膜厚测试仪,X荧光测厚仪,ROHS仪器,气质联用仪,液质联用仪,ROHS卤素检测仪,x荧光光谱分析仪,手持式光谱分析仪,气相色谱质谱联用仪,液相质谱联用仪,便携式合金分析仪,ROHS测试仪,x-ray镀层测厚仪,环保ROHS检测仪

 

部分产品

 

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