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天瑞仪器x荧光镀层测厚仪thick800a

更新时间:2020-04-13

简要描述:

天瑞仪器x荧光镀层测厚仪thick800a是企业在采购过程中考虑的一个环节,天瑞仪器作为国内具有影响力的企业,X荧光镀层测厚仪打破了国外垄断局面,产品是用于镀层行业的一款金属镀层测试仪器.

天瑞仪器x荧光镀层测厚仪thick800a技术参数

 

重量:90 kg
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
温度适应范围为15℃至30
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576W x 495 D x 545H mm

 

天瑞仪器x荧光镀层测厚仪thick800a性能优势

 

可靠性高
由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求
:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种先进的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
快速
1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
无损
测试前后,样品无任何形式的变化。
直观
实时谱图,可直观显示产品测试点
简易
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
性价比高
相比其他类类仪器,x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。

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深圳市天瑞仪器有限公司

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