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X荧光全元素检测分析光谱仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

X荧光全元素检测分析光谱仪属于先进的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。

X荧光全元素检测分析光谱仪产品介绍

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X荧光全元素检测分析光谱仪属于先进的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)一体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光全元素检测分析光谱仪技术为基础,结合国外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600KX荧光全元素检测分析光谱仪。

EDX 3600K X荧光全元素检测分析光谱仪的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到国际先进水平。

 

X荧光全元素检测分析光谱仪性能优势

 

1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率达到139eV,各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对SiSAI等轻元素的测试具有良好的分析精度。

2. 测试精度更高,检出限更低
专业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响,提高样品的测试精度。
采用超小超真空的样品腔设计,保证测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。

3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术,其线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从第1秒就可以得出定性定量结果,
设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。

4. 一键式智能化操作
专业软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。

5. 强大的自动化功能
自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的*性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。

6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。

7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。

8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。

9. 安全警示系统
警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。

 

X荧光全元素检测分析光谱仪配置

 

铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统

可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
先进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型

 

X荧光全元素检测分析光谱仪技术参数

 

型号:EDX3600K
X
射线源:50KV
1mA
样品腔体积:
Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法

测量元素范围:原子序数为992[氟(F)到铀(U]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm99.99%
检测时间:10秒以上

检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择

摄像头:高清摄像头
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以
准直器和滤光片:四组准直器(7531mm),6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到
10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率

测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm
90KG
操作环境湿度:
≤90%
操作环境温度:1530

 

X荧光全元素检测分析光谱仪软件优势

 

采用公司新的能谱EDXRF软件,先进的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核,采用FPEC软件组合的方法,应用面更加广泛。

 

 
X
荧光全元素检测分析光谱仪应用领域

 

专为粉未冶炼行业研发的一款高端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。

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